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光譜測(cè)試
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光譜掃描范圍: 350nm~1200nm
最小光譜分辨率: 20pm
6362C是一款高分辨、大動(dòng)態(tài)高速高性能光譜分析儀,適用于350nm~1200nm光譜范圍的DWDM等光系統(tǒng)測(cè)試;LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件測(cè)試;光纖等光無(wú)源器件測(cè)試。
20pm最小光譜分辨率
350nm~1200nm光譜掃描范圍
60dB大動(dòng)態(tài)范圍
支持空間光輸入
強(qiáng)大的多應(yīng)用光譜數(shù)據(jù)分析功能
12.1英寸觸控顯示、全中文操作
6362C光譜分析儀支持不同光譜分辨率的設(shè)置,多種光譜分辨率設(shè)置靈活切換,最小光譜分辨率優(yōu)于20pm。
6362C光譜分析儀采用擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的光譜自適應(yīng)峰值檢索算法,峰值檢索準(zhǔn)確度高,自適應(yīng)性和魯棒性強(qiáng),且運(yùn)算速度快。
6362C光譜分析儀具備多場(chǎng)景光譜分析功能,針對(duì)DFB-LD等單縱模激光光源,儀器提供閾值分析和邊模抑制比分析兩種分析方法,有效準(zhǔn)確的評(píng)估單縱模待測(cè)光源的中心波長(zhǎng)、光譜帶寬和邊模抑制比。
針對(duì)FP-LD等多縱模激光光源,6362C光譜分析儀提供ndB損耗分析、包絡(luò)分析和均方根分析三種分析方法,多維度全面評(píng)估多縱模待測(cè)光源的中心波長(zhǎng)和光譜帶寬。

ndB損耗法測(cè)試中心波長(zhǎng)和光譜帶寬

包絡(luò)分析法測(cè)試中心波長(zhǎng)和光譜帶寬

均方根分析法測(cè)試中心波長(zhǎng)和光譜帶寬
6362C光譜分析儀可以對(duì)LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類(lèi)型激光器進(jìn)行一鍵測(cè)試與分析,實(shí)現(xiàn)所有測(cè)試項(xiàng)目批處理。儀器還集成了光纖偏振模色散測(cè)量應(yīng)用、波分復(fù)用應(yīng)用等光譜應(yīng)用功能。
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型號(hào) |
調(diào)制頻率范圍 |
工作波長(zhǎng) |
光功率測(cè)試范圍 |
動(dòng)態(tài)范圍 |
對(duì)比 |
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6362C 光譜分析儀
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